詹妮弗·德沃克博士.D.

Dr. 詹妮弗Dworak

詹妮弗·德沃克博士.D.

电子与计算机工程系教授
新大技术研究中心副主任&T虚拟化中心 

办公地点:Junkins 337

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Education

  • Texas A&大学,博士.D. 电气工程
  • Texas A&大学电气工程硕士学位
  • Texas A&大学电气工程学士学位

Biography

詹妮弗Dworak是新加坡管理大学莱尔分校电子与计算机工程系的教授. 她的研究兴趣包括制造测试, 硬件安全, 静默数据损坏, 以及数字电路和系统的可靠性. 她是美国国家科学基金会职业奖和2012年拉尔夫E. 由橡树岭联合大学资助的鲍尔青年教师进步奖. 她是多篇技术文章的合著者, 其中两篇论文获得了VLSI测试研讨会的最佳论文奖,一篇论文获得了TTTC Naveena Nagi奖. Prof. dwork还拥有两项网络安全锁专利, keys, 陷阱和蜜罐还有一项增强安全的激光装置的专利. 她已经做了30多次特邀演讲,并在多个技术会议上担任特邀小组成员, 包括在北美、南美和欧洲举行的会议.

荣誉及奖励

  • 最佳论文奖,VLSI测试研讨会,Dana Point, CA, 1999年(2000年宣布)

  • 2000 - 2003年度国家科学基金研究生奖学金

  • 最佳学生演讲奖,国际测试综合研讨会,2002年3月

  • 2004年4月,TTTC Naveena Nagi奖在2004年VLSI测试研讨会上颁发

  • NSF职业奖,2010年3月

  • Ralph E. 2012年4月,橡树岭联合大学power青年教师进步奖

  • 2012年VLSI测试研讨会上关于协议感知测试仪的特别会议获得了“最佳创新实践奖”. 授予2013年4月29日

  • IEEE设计与测试工程优秀奖,获奖论文:
    “使用现有的可重构逻辑在3D模具堆栈测试,”并发表
    在北大西洋测试车间. 授予2016年5月10日

  • 特别会议的组织者赢得了“最佳特别会议奖”的热门话题会议:在2017年VLSI测试研讨会上提出的IEEE测试标准的未来扩展. 授予2018年4月23日

  • 特邀主题演讲嘉宾:“注意后门:测试中的安全问题”,在与欧洲测试研讨会相关的TESTA研讨会上发表, Bremen, Germany, June 1, 2018

  • 最佳论文奖,VLSI测试研讨会,蒙特雷,CA, 2019(2020年公布)

  • 特邀主题演讲“提高有效缺陷检测的电路结构”,第一届数据完整性和安全云计算研讨会(DISCC 2022)

  • 与第55届国际微架构研讨会有关
    (MICRO 2022), 2022年10月2日

Research

  • 集成电路和系统的可靠性
  • 制造测试和可测试性设计(DFT)
  • 静默数据损坏
  • 硬件安全
  • 硬件木马
  • 功耗分析攻击防范

Publications

  • S. Gupta, B. Bhaskaran, S. Sarangi, A. Abdollahia和J. Dworak, 一种新的基于图着色的低功耗扫描移位解决方案,2019 IEEE VLSI测试研讨会, April 2019. (最佳论文奖得主)
  • David Brauchler和詹妮弗Dworak,“未来IEEE P1687的多级访问保护”.1 . IJTAG Networks,”IEEE国际测试会议,2020年11月.
  • Y. Sun, H. Jiang, L. Ramakrishnan, J. Dworak, K. Nepal, T. Manikas和R. I. Bahar, 通过atpg配置的嵌入式使能捕获位实现低功耗转换和捕获,2021年IEEE国际测试会议(ITC), 2021, pp. 319-323, doi: 10.1109/ITC50571.2021.00045.
  • H. Jiang, J. Dworak, K. Nepal, T. Manikas, 扫描移位过程中过渡故障偶然检测的增强DFT,IEEE第31届微电子设计 & 测试研讨会(MDTS), 2022年5月
  • S. Yassein, H. Jiang, J. Dworak, K. Nepal, and T. Manikas, 收集浪费的时钟周期,实现高效的在线测试,IEEE欧洲测试研讨会(ETS), 将于2023年5月举行.